认证服务
徽标(会员)认证
大中华地区认证
欧盟地区认证
亚洲地区认证
美洲地区认证
其他地区认证
CE认证专栏
电池检测认证
苹果MFi认证
音视频认证
日本认证专栏
英国认证
顾问咨询
认证体系
顾问服务
验货审核
军工认证
WERCS注册
测试服务
汽车电子EMC测试
汽车电子测试
新能源电池测试
电磁兼容测试
安全测试
无线射频检测
化学检测
可靠性检测
能效检测
材料检测
失效分析
物流包装检测
音频测试
RoHS指令
无线充一站式认证
口罩认证
口罩CE认证
欧洲代表注册
口罩测试标准
口罩单项测试
深圳总部
深圳市微测检测有限公司
总部办公地址: 深圳市宝安区福洲大道新和新兴工业园二区7号微测检测科技园
投诉建议: Suggestion:complaint@51mti.com
0755-88850135-8267
业务咨询:
0755-88850135-1439/131-4343-1439
服务热线:
400-666-1678(免长途话费)
总机: 0755-8885-0135
邮箱: mti@51mti.com
失效分析技术与设备
技术 | 探测源 | 探测物理量 | 用途 |
电参数测试分析 | 电信号 | 确定失效模式和失效管脚定位 | |
扫描声学显微分析(SAM) | 超声波 | 超声波 | 测量超声波传播,分析材料弹性特征,晶体缺陷和多层结构分析,结构截面的非破坏性分析 |
X-射线透视仪 | X射线 | X射线强度 | 检测电子元器件及多层PCB板的内部结构 |
X射线光电子能谱(XPS) | 特征X射线 | 光电子 | 通过测量光电子能量确定壳层能级,利用化学位移测量化学键和化合物,元素确定,化学位移 |
显微红外吸收光谱(FTIR) | 红外线 | 红外吸收光谱 | 识别分子官能团,有机物结构分析 |
二次离子质谱(SIMS) | 离子 | 二次离子 | 元素确定,表面元素分布 |
技术 | 探测源 | 探测物理量 | 用途 |
光学显微镜 | 可见光 | 反射光 | 表面形貌,尺寸测量,缺陷观察 |
扫描电子显微分析(SEM) | 电子 | 二次电子,背散射电子 | 表面形貌,晶体缺陷,电位分布, |
X射线能谱分析(EDS) | 电子 | 特征X射线 | 元素分析及元素分布 |
俄歇电子能谱(AES) | 电子 | 俄歇电子 | 表面元素确定和元素深度分布 |
聚焦离子束(FIB) | 离子 | 二次离子 | 截面加工和观察 |
透射电子显微技术(TEM) | 电子 | 电子 | 截面形貌观察,晶格结构分析 |
我要评论: | |
内 容: | |
验证码: | (内容最多500个汉字,1000个字符) 看不清?! |
1.尊重网上道德,遵守中华人民共和国的各项有关法律法规,不发表攻击性言论。 2.承担一切因您的行为而直接或间接导致的民事或刑事法律责任。 3.方案留言板管理人员有权保留或删除其管辖留言中的任意内容。 |
共有-条评论【我要评论】