【MFi认证】lightning耳机软面板变形力测试要求
软面板变形力测试是Lightning耳机MFi认证产品测试中非常重要的一个项目,同时也是产品设计当中的难点。那到底这软面板变形力测试的具体要求是什么呢?微测检测工程师给您详细介绍一下。
软面板变形力测试要求
使用变形力测试探针,测量有以下变形时的力量:
1. 将探针对齐闪电连接器。
2. 以50 mm/min将探针向着软面板移动。
3. 当压力达到0.05N,改变速率为2 mm/min,并且开始记录压力-变形曲线。
4. 当压力达到10N时停止。在压力-变形曲线上已经可以看到插头提示接触到探针内表面的底部了。
5. 确认曲线点在Figure 6-2要求的限值内。
微测检测实验室目前已具备了lightning耳机测试所有项目的能力,可以满足客户申请MFi认证测试及整改的全套服务。了解更多内容,请登陆微测官网:www.mtitest.com,或拨打咨询热线:400-666-1678,微测检测竭诚为您服务!
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