由微测检测主办的"智能排插研讨会"于2016年12月9日在深圳市成功召开。大会以智能排插为主题，旨在为智能排插领域提供一个探讨最新核心技术、应对策略、创新技术（产品）一个高层次的沟通、合作、交流平台。

      本次会议邀请了 Intertek 天祥资深工程师 Angus Tam、微测检测技术经理 Ares 、微测检测项目经理 Yoki 等智能排插领域专家进行了探讨和分析。与会人员积极互动，分享了满满的干货，活动现场气氛热烈。

微测检测总经理致辞

天祥 Angus Tam分享

   在大家依依不舍中，智能排插研讨会圆满落幕。感谢每一位参会代表和工作人员的辛苦付出，活动能够得到大家的一致肯定和支持，你们的付出是值得。

   最后惊喜大放送，微测检测在2017年新的一年将会有一场神秘大会接踵而至，错过这次的你不用遗憾，尽情期待吧！